サージ試験は、回路またはデバイスの過渡電圧または電流を試験する方法です。
チップの設計および製造では、サージやその他の予期せぬ事象など、さまざまな電磁干渉に遭遇することがよくあります。これらの事象はチップ内部の回路構造を損傷し、チップの故障や動作の不安定を引き起こす可能性があります。
電源チップのサージの原因は何ですか?
1. スイッチング電源と電圧急変について
電源が切り替わると、瞬時コンデンサの放電により回路内で短時間の電圧上昇が起こり、電流が一時的に増加し、サージ電流現象が発生します。電力系統では、強い雷による急激な電圧変化もサージの発生につながる可能性があります。
2. 電力設備の過渡過程
電気機器の起動、停止、運転時には短時間の電圧上昇が発生し、機械式スイッチのスイッチングによってもサージ電流が発生することがあります。
3. 短絡故障
回路に短絡障害が発生すると、それが低圧配電網であっても高圧送電線であっても、瞬間的な電流の上昇が発生しますが、そのほとんどがサージ電流です。
サージ電流は、回路や電子機器に、機器の損傷やショートなどの重大な損害を引き起こす可能性があります。回路に大量のサージ電流が流れると、一時的な電荷の蓄積と放電が発生し、高電圧ピークが発生し、故障の原因となります。電子機器に大きなダメージを与えます。
サージ試験チップが電流、電圧、時間、その他のパラメータなどのサージ干渉に耐えられるかどうかを検出し、テストされた製品が正常に動作できるかどうかを判断できます。
サージ試験を実施する場合、サージ発生器、差動プローブ、電流ループ、その他の計器デバイスなどの専門的な測定器を使用する必要があります。オペレーターは、テストデータの精度と信頼性を確保するために、テスト機器の使用仕様とテスト手順に厳密に従う必要があります。
サージ試験と試験方法
1. サージ発生器、差動プローブ、電流ループ、オシロスコープ、電源、およびその他の計器デバイスを準備します。電源を介してチップに電圧と電流を供給すると、オシロスコープがチップの出力でのサージ電流をテストします。
2. テスト計画を指定して実行します。テストの前に、テスト電圧、テスト時間、テスト周波数などの関連パラメータを含む詳細なテスト計画を作成する必要があります。テスト計画が完了したら、テストを開始できます。
3. データの分析と処理。テストが完了したら、チップのサージ耐性とその安定性と信頼性を向上させる方法を判断するために、データ分析とテスト結果の処理が必要です。
電子製品製造企業の場合、テスト結果の精度と信頼性を確保するために、テストプロセスと関連規格に厳密に従う必要があります。
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