1. 背景
回路では、スイッチング過渡現象（誘導負荷の遮断、リレー接点のバウンスなど）が通常、同じ回路内の他の電気および電子機器に干渉します。このタイプの干渉の特徴は、振幅が大きく、立ち上がり時間が短く、繰り返し率が高く、エネルギーが低いことです。グループで現れる狭いパルスは半導体デバイスの静電容量を充電する可能性があり、ある程度蓄積されると回路またはデバイスのエラーを引き起こす可能性があります。このような干渉が機器に与える影響をシミュレートするために、EFT（電気的高速過渡現象）/バーストテストを実施して、機器の安定性をテストします。
2. 概要
1) EFT テストは EMS 分野に属し、外部干渉が機器に与える影響を調べます。
2) 反復高速過渡試験は、電気および電子機器の電源、制御、信号、アースポートに結合された多数の高速過渡現象からなるバーストによる試験です。
3) IEC/EN 61000-4-4 で規定されているインパルスの繰り返し周波数は 5 kHz と 100 kHz です。
繰り返し周波数が5kHzの場合、バースト持続時間は15msです。
繰り返し周波数が10kHzの場合、バースト持続時間は0.75msです。
5k および 100k 繰り返し波形、立ち上がり時間 5ns、パルス幅 50ns。
4) テストレベル
機器の電源、制御、信号、アース ポートに適用される、電気的高速過渡テストの推奨テスト レベル。
3. 典型的なテスト設定
実験室タイプのテスト用の卓上型および床置き型機器のテスト セットアップ:
1) 地上基準面
2) EFT/バーストジェネレータ
3) CDN（該当する場合）
4) 容量結合クランプ（該当する場合）
5) 絶縁サポート
6) アースケーブル
4. テスト結果の評価
試験結果は、EUT の機能損失または性能低下の観点から分類されるものとする。
a) 製造業者が指定した制限内での通常の性能
b) 障害が治まると機能の一時的な喪失または性能の低下が治まる
c) 一時的な機能の喪失または性能の低下
d) 回復不可能な機能の喪失または性能の低下
この分類は、製造業者が製品の修正や改善を行うためのガイドとして使用できます。
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